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台阶仪1膜厚仪ET4000系列
台阶仪1膜厚仪ET4000系列

产品概述

高精度.安定性.机能性卓越适合于FPD基板·晶圆硬盘等的微细形状、段差、粗度测定的机型。

是多机能的全自动微细形状测定机,针对用途及样品尺寸有多种机型可供选择。

ET4000A/ ET4000AK一可实现2D/3D表面形状测量。

ET4000M一高性能的泛用微细形状测定机。

ET4000L一对应大型工件的全自动微细形状测定机。

ET4300一适合12"样品测量。

各机型详细参数请与区域销售联系。

 

台阶仪1膜厚仪ET4000系列

  • 详情说明


产品参数
最大试片尺寸 210×210mm~300×400mm
重现性 1σ 0.5nm以内
测定范围 Z:100um X:100~305mm (Y移动量:150~400mm)
分解能 Z:0.1nm X:0.1um
测定力 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg)
产品介绍

台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶仪测量薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面

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